原子層沉積系統采用美國AII微量氧分析儀與露點儀
一、設備概述:
原子層沉積系統是專門為工業化大規模生產而研發的4腔室原子層沉積系統。該系統配備多種材料的標準沉積工藝配方,滿足工業應用需求。
二、產品優勢:
先進的軟件控制系統:系統集工藝配方、參數設置、權限設定、互鎖報警、狀態監控等功能于一體;

三、技術指標:原子層沉積系統采用美國AII微量氧分析儀與露點儀
基片尺寸 8英寸及以下
基片加熱溫度 室溫~500℃,控制精度±0.1℃
前驅體輸運系統 標準2路前驅體管路,可選配
前驅體管路溫度 室溫~200℃,控制精度±0.1℃
源瓶加熱溫度 室溫~200℃,控制精度±0.1℃
ALD閥 Swagelok快速高溫ALD專用閥
本底真空 <5*10-3Torr,進口防腐泵
載氣系統 N2或者Ar
處理能力 4腔室,每腔室400片
生長模式 連續高速沉積模式
控制系統 PLC+觸摸屏或者顯示器
電源 50-60Hz, 380V/40A交流電源
沉積非均勻性 非均勻性<±1% 片間非均勻性 <±1.5%
設備尺寸 3000mmx800mmx2400mm
四、可沉積薄膜種類:原子層沉積系統采用美國AII微量氧分析儀與露點儀
單 質:Co, Cu, Ta, Ti, W, Ge, Pt, Ru, Ni, Fe…
氮化物:TiN, SiN, AlN, TaN, ZrN, HfN, WN …
氧化物:TiO2, HfO2, SiO2, ZnO, ZrO2, Al2O3, La2O3, SnO2…
其它化合物:GaAs, AlP, InP, GaP, InAs, LaHfxOy, SrTiO3,SrTaO6…
五、應用實例:
高K柵氧化層,存儲容性電介質,銅互連中高深寬比擴散阻擋層,OLED無針孔鈍化層,MEMS的高均勻鍍膜,納米多孔結構鍍膜,特種光纖摻雜,太陽能電池,平板顯示器,光學薄膜,其它各類特殊結構納米薄膜原子層沉積系統采用美國AII微量氧分析儀與露點儀
更多原子層沉積系統采用美國AII微量氧分析儀與露點儀信息請致電埃登威021-55581219