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LDETEK等離子發(fā)射色譜儀在高純D2中雜質(zhì)的分析微量氧分析儀露點(diǎn)儀品牌

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LDETEK等離子發(fā)射氣體分析儀 
應(yīng)用案例:
高純D2中雜質(zhì)的分析(含D2中H2,HD的檢測(cè))
通過使用使用特征波長(zhǎng)透過的濾光技術(shù)的高選擇性專用等離子發(fā)射檢測(cè)器以及用MnCl2改性的Al2O3作為填料的專用色譜柱在低溫下實(shí)現(xiàn)H2,HD及D2的分離。LDETEK等離子發(fā)射色譜儀在高純D2中雜質(zhì)的分析微量氧分析儀露點(diǎn)儀品牌產(chǎn)品:微量氮分析儀|益康煙氣分析儀|LPDT露點(diǎn)儀|美國(guó)深特露點(diǎn)儀|美國(guó)AII微量氧分析儀|便攜式露點(diǎn)儀|Presens頂空分析儀|藥品殘氧儀|XPDM便攜式露點(diǎn)儀|氧分析儀GPR-1200|氧分析儀價(jià)格|益康煙氣分析儀|進(jìn)口煙氣分析儀|便攜式微量氧分析儀|進(jìn)口露點(diǎn)儀|進(jìn)口氧分析儀|PTI彎曲挺度儀|Frank-PTI儀器|儀器維修|硫化氫氣體分析儀|露點(diǎn)儀校準(zhǔn)代表處|分公司|全資子公司|總代理|價(jià)格|品牌|批發(fā)|上海分公司|北京辦
實(shí)例中,各組分量程上限10-100ppm,檢出限10ppb;結(jié)合LDetek的多通道同時(shí)分析檢測(cè)的**技術(shù),能在相對(duì)較短的周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)高純D2中雜質(zhì)的分析。


D2各組分


結(jié)論:
通過使用使用特征波長(zhǎng)透過的濾光技術(shù)的高選擇性專用等離子發(fā)射檢測(cè)器以及用MnCl2改性的Al2O3作為填料的專用色譜柱在低溫下實(shí)現(xiàn)了高純D2中雜質(zhì)的分析。LDETEK等離子發(fā)射色譜儀在高純D2中雜質(zhì)的分析微量氧分析儀露點(diǎn)儀品牌

該系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)各項(xiàng)雜質(zhì)的檢出范圍為檢出上限10~100ppm至檢出下限10ppb,系統(tǒng)能夠輕松地完成高純D2的中氫同位素雜質(zhì)的分離,并且系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì),可遠(yuǎn)程操控,是有高純D2檢測(cè)需求的客戶的理想選擇。

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